X射线荧光光谱仪由激发源(X射线管)和检测系统组成。X射线管产生入射X射线(初级X射线)并激发被测样品。被激发样品中的每个元素都会发出次级X射线,不同元素发出的次级X射线具有特定的能量特征或波长特征。探测系统测量这些发射的次级X射线的能量和数量。然后,仪器软件将检测系统采集的信息转换成样品中各种元素的种类和含量。
主要用途:
X荧光光谱仪研究主要使用用途X荧光光谱仪能够根据各元素的特征X射线的强度,也可以自己获得各元素的含量信息。
近年来,X射线荧光光谱仪分光光度法已广泛应用于冶金、地质、有色金属、建材、商品检验、环境保护、健康等领域,特别是在RoHS检测领域得到广泛应用。
它可以分析大多数分析元素,包括固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围从Be到u,具有分析速度快、测量范围宽、干扰小等特点。
X射线荧光光谱仪优势:
1.分析速度快。测定时间与测定精度有关,但一般很短。
2.X射线荧光光谱跟样品的化学结合生活状态信息无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上都是没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密技术测定中却可看到有波长发生变化等现象。特别是在超软X射线检测范围内,这种效应研究更为显著。波长结构变化可以用于化学位的测定。
3.无损分析。在测定过程中,没有化学状态的改变,也没有样品飞走。同一样品可多次测定,重现性好。
4.x射线荧光分析是一种物理分析方法,所以在化学性质上属于同一族的元素也可以分析。