x射线荧光光谱仪是一种分析技术仪器，它使用 X 射线与材料的相互作用来确定其元素组成。x射线荧光光谱仪适用于固体、液体和粉末，并且在大多数情况下是非破坏性的。x射线荧光光谱仪是一种现场筛选方法，不会消除对传统实验室分析的需求。随着这项技术的应用，随机样本被带到实验室重新校准x射线荧光光谱仪传感器并确认结果是准确的。

x射线荧光光谱仪- 基本过程

x射线荧光光谱仪可以在原子级发生的简单三步过程中考虑：

传入的 X 射线从材料原子内的原子核周围的轨道之一中敲出电子。

在轨道中产生一个空穴，导致原子具有高能量、不稳定的构型。

为了恢复平衡，一个电子从更高能量的外轨道落入空穴。由于这是一个较低的能量位置，多余的能量以荧光 X 射线的形式发射。

排出电子和替代电子之间的能量差异是发生荧光过程的元素原子的特征——因此，发射的荧光 X 射线的能量与被分析的特定元素直接相关。正是这一关键特性使 XRF 成为如此快速的元素组成分析工具。


x射线荧光光谱分析贵金属和珠宝

不过在分析贵金属过程中，尤其是珠宝时使用x射线荧光光谱仪而不是直接使用酸等化学物质，列如黄金分析检测的传统酸测试将一小滴强酸（例如硝酸）滴在金属表面上。这种类型的测试可能会在珠宝上留下痕迹，因为它具有腐蚀性。酸度测试并不准确，不会给出准确的数据，也不会告诉您哪些其他合金元素构成了金属的成分。此外，除非您在珠宝上留下很深的划痕，否则很难确定是否存在镀金。x射线荧光光谱仪还可以快速提供物品中所有元素的准确沙巴滚球官网入口重量和百分比 - 轻松识别酸测试无法区分的非标准、空位不足甚至高级假冒材料。


能量色散型x射线荧光光谱仪

 能量色散检测系统直接测量从样品发射的 X 射线的不同能量。通过计算和绘制每个能量下 X 射线的相对数量，生成x射线荧光光谱。 能量色散检测器的原理基于在半导体材料“硅”中生成电子-空穴对。能量为 EX 的入射 X 射线被探测器材料吸收，并导致形成一个或多个电子-空穴对。为该特定材料执行此操作的能量 E EHP是固定的。X 射线将在其能量允许的范围内形成尽可能多的电子 - 空穴对：电子 - 空穴对的数量 = E X  / E EHP一旦发生这种情况，电子就会被拉离探测器，产生的电流与电子-空穴对的数量成正比，而电子-空穴对的数量本身与 X 射线能量直接相关。这个分析过程以非常高的频率重复，并将结果分类到能量通道中。