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X射线荧光光谱仪的物理原理及化学分析

发布时间:2021-06-03

  今天沙巴滚球官网入口科技的小编给大家介绍的是关于X射线荧光光谱仪的物理原理以及化学分析,希望大家在阅读下述内容介绍的过程当中,能够有所帮助,那么接下来就跟着小编一起来看下吧。


  X射线荧光光谱仪的物理原理:


  当材料暴露在短波长X光检查,或者伽马射线,它的组成原子也许会发生电离,假如原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势,足以驱逐内层轨道的电子,但是这会使原子的电子结构不稳定,在外轨道的电子会“回补”进入低轨道,为了填补遗留下来的洞。在“回补”的过程当中会释放出多余的能源,光子能量是相等两个轨道的能量差异的。所以,物质放射出的辐射,这是原子的能量特性。


  X射线荧光光谱仪的化学分析:


  主要使用X射线束激发荧光辐射,第一次是在一九二八年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在,这种方法作为非破坏性分析技术,并且作为过程控制的工具,普遍使用于采掘还有加工工业。原则上,最轻的元素,可以分析出铍(z=4),可是因为仪器的局限性还有轻元素的低X射线产量,通常难以量化,因此针对能量分散式的X射线荧光光谱仪,能够分析从轻元素的钠(z=11)到铀,而波长分散式则为从轻元素的硼到铀。


  综上所述便是沙巴滚球官网入口(中国)有限公司的小编给大家介绍的全部内容,更多精彩资讯欢迎下期看点。




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