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X射线荧光分析仪 EDX-LE Plus

发布时间:2021-06-13

      X射线荧光分析仪 EDX-LE Plus是否符合 RoHS 法规(有害物质限制)的重要工具。10 年来一直深受行业信赖,可为需要符合该指令的企业提供一致的结果。通过简单快速的 RoHS 测量,您可以确保您能够满足环境法规的要求。在台式分析仪系列之间进行选择;EDX-LE Plus系列用于专门的 RoHS 分析、涂层沙巴滚球官网入口素映射分析。

     产品优势:
     易于操作
     自动采样
     灵活的校准以适应新的 RoHS 标准
     自动突出显示您正在分析的内容以获得一目了然的结果
     快速测量
     适合各种样品的大腔室
     视觉和音频测量指示器
     可选择添加涂层沙巴滚球官网入口素分析


     技术对比:
     快速和准确
     台式或便携式 XRF 将快速筛选产品中感兴趣的元素
     较低的获取和维护成本:
     除了较低的初始投资外,XRF 技术还可以设置后无需费用
     非技术用户直观:
     经过简短的培训课程后,新操作员可以轻松进行测量并编写报告
     RoHS 之外的其他应用:
     日立 XRF 系统提供额外的功能、元素分析和涂层厚度。

      检测功能
     - 量化总铅 (Pb)、汞 (Hg)、镉 (Cd)、铬 (Cr) 和溴 (Br)
     - 实现塑料的内部 RoHS 筛查,聚合物和混合材料
     - 高可靠性焊料分析,用于军事规范以验证铅含量
     - 分析涂层引线是否符合 RoHS
     - 执行焊料成分分析(对于假冒元件检测也很重要)
     - 存储结果并开发报告以满足特定兴趣

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