凭借 50 多年的创新和领先地位，赛默飞世尔科技的XPS 表面分析仪器使客户能够找到有意义的问题答案，从而加速突破性发现、提高生产力并最终改变世界。对于表面和薄膜结构的分析，我们的 XPS 光谱仪系列具有高性能、易于自动化操作以及适用于材料科学和研发实验室的多技术集成。


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Thermo Scientific™ Nexsa™ 表面分析系统是一种高性能 X 射线光电子能谱仪，旨在集成其他分析技术，同时保持高通量工作流程。凭借 Thermo Scientific™ MAGCIS™ 双模式离子源和 Thermo Scientific™ iXR™ 拉曼光谱仪等独特选项，Nexsa 系统已准备好应对最棘手的表面分析问题。


Thermo Scientific™ ESCALAB Xi + ™ XPS Microprobe是一种高性能 X 射线光电子能谱仪，旨在集成其他分析技术和高级样品制备选项。凭借出色的能量分辨率、Thermo Scientific MAGCIS 双模式离子源和快速 XPS 成像等选项，ESCALAB Xi +已为您的研究做好准备！


Thermo Scientific™ K-Alpha™ XPS 系统是一种高性能 X 射线光电子能谱仪，其设计易于使用且速度快，适用于高通量工作流程。K-Alpha 配备了 XPS 分析所需的一切，包括用于深度分析的离子源。