元素分析是分析某些材料(例如，土壤、废物、矿物、化合物)样品的元素组成的过程，有时也分析其同位素组成。元素的分析可以是定性的(确定存在哪些元素)，也可以是定量的(确定每种元素的含量)。元素属于分析化学的范畴，分析化学是一套用来破译我们这个世界的化学性质的仪器。


　　元素分析的目的是确定分子或材料中特定元素的数量。元素分析可以细分为两种方式：

　　定性：确定存在哪些元素或特定元素。
　　定量：确定存在多少特定元素或每个元素。


　　定量的
　　定量分析是确定每种元素的原子百分比或重量百分比。其他定量方法包括：　x射线光电子能谱(XPS) [/-5%]、SEM-EDS(使用纯参考标准)[/-15%]

　　能量色散X射线光谱(EDX或EDS)是一种用于检测固体材料成分的分析技术。有几种变体，但它们都依赖于原子核附近的受激电子，导致更远的电子降低其能级，以填充产生的“空穴”。


　　定性的

　　为了定性地确定样品中存在哪些元素，方法是：
　     x射线荧光(XRF)
　　x射线光电子能谱(XPS)
　　电感耦合等离子体质谱
　　扫描电镜能谱仪

　　元素成分分析通常是确认材料或薄膜中存在的主要元素的特性和数量。


　　选择的分析技术取决于：

　　你对样本了解多少？
　　什么需要量化(常量元素、微量元素、化合物或分子成分)？
　　这是面分析，体分析还是层分析？
 
表面化学分析
元素和化学状态成分的最佳测量方法是使用具有浅信息深度 (<120Å) 的定量技术，例如 X 射线光电子能谱法。


　　批量分析

　　优选地，通过具有大量/深度信息的技术来确定成分，这些技术不测量表面的变化。x射线荧光(XRF)和电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)是最常用的技术，可以定量主要和次要元素。


　　薄层分析

　　x射线光电子能谱(XPS)是薄层和体积分析的绝佳选择。
　　傅里叶变换红外光谱(FTIR)和拉曼光谱非常适合于有机薄膜的分子信息。
　　拉曼光谱非常适用于来自无机化合物的分子信息，但不适用于纯金属。
　　二次离子质谱(SIMS)在化合物半导体薄膜的高精度测量中有一系列的应用。


　　沙巴滚球官网入口科技推荐一系列元素分析仪器，包括能量色散X射线光谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)和电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)，可以检测痕量到百分比水平。用于测试微量元素的样品类型和基质包括有机和无机、水性和非水性材料。