EDX-LE 是一种能量色散 X 射线荧光光谱仪，专为筛选受 RoHS/ELV 指令监管的元素而设计。它的探测器（Si-PIN半导体探测器）不需要液氮，从而实现更低的运营成本和更容易的维护。自动分析功能提高了可操作性，而不会牺牲其高水平的检测可靠性。某些样品从开始测量到判断所需的时间短至一分钟，这对于RoHS指令规定的元素的筛选检查非常有帮助。


特征
节省大量劳动力，高速筛选
更低的运营成本，更容易的维护
提供筛选五种 RoHS 管制元素的特定功能
可根据管理方式定制简易设置功能
轻松完成艰巨的任务
从[筛选分析]窗口轻松操作
从主要成分的评估到条件的选择，所有步骤都是自动设置的
提供了所有必要的功能
标配 RoHS/ELV 分析所需的功能
大样品室可以测量大样品




产品规格：
1. 主要规格：
　1) 测量原理：X 射线荧光光谱法
　2) 测量方法：能量色散
　3) 测量样品类型：固体、液体或粉末
　4)被测元素：13 Al ~ 92 U
　5) 样品室尺寸：最大 W370 mm x D320 mm x H155mm


2. X 射线发生器
　1) X 射线管：Rh Target
　2) 管电压：5 - 50kV
　3) 管电流：1 - 1000mA
　4) 冷却方式：风冷（带风扇）
　5 ) 曝光区域: 3,5,10mm dia.areas 之间自动切换
　6) 初级过滤器: 自动切换: 5 种类型 + 开放


3. 检测器
　1) 类型：硅胶漂移检测器(SDD)
　2) 液氮：不需要
　3) 计数方式：数字过滤器计数


4. 样品室
　1) 测量气氛：空气
　2) 样品观察： CCD 摄像头


5. 软件
　1) 筛选分析: 操作简单的软件
　2) 定性分析: 测量/分析软件
　3) 定量分析: 校准曲线法, FP 法
　4) Utilities: 自动校准功能
　　(能量校准，全宽半最大值校准)
　5) 其他功能：系统-状态监控功能
　　分析-结果列表功能
　　分析-结果报告创建功能

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